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    銀聯卡產品質量管理認證檢測技術指標

    更新時間:2014-02-17   點擊次數:4816次

    銀聯卡產品質量管理認證檢測技術指標(2014年試行)

     

     

    編號

    指標名稱

    考核內容

    質量管理認證送檢通過標準描述

    適用卡類

    指標分類

     

     

    1

     

     

    剝離強度測試

     

    測量卡片各層之

    1、新卡剝離強度值應≥4.5N/cm;

    2、經過老化測試,3-5剝離 強度值應≥3.0N/cm

     

     

    磁條、接觸、非接

     

     

    卡體物理耐用度

    UH2102剝離強度測試機

     

     

    2

     

    抗UV光照 /耐光 色牢度

     

     

    卡片顏色的牢固度

     

    對卡片施以75,000KJ/㎡(相當于太陽3 年)的劑量,卡片褪色等級在WS4/3照 ISO 105-B02)

     

     

    磁條、接觸、非接

     

     

    卡體物理耐用度

    UV紫外線老化箱

     

     

    3

     

     

    卡面平印質量

     

     

    考核卡面印刷(平印)質量

     

    平印信息不應輕易掉色。用TESA4206膠帶垂直 方向快速粘拉,拉脫率≤5%。 將卡片彎折180°平印信息無脫落現象。

     

     

    磁條、接觸、非接

     

     

    卡體物理耐用度

     

     

    4

     

     

    磁條耐磨損

     

     

    考核磁條使用壽命

     

     

    磁條磨損后其磁特性仍然保持正常范圍。 按原磁條卡檢測標準執行。

     

     

    磁條

     

     

    卡體物理耐用度

     

     

     

    6

     

     

     

    動態彎扭測試

     

     

     

    考核卡片抗動態彎曲、扭曲應 力的能力。

     

     

    彎曲:卡片4個方向各500次 扭曲:2000次

    累計4000次,無模塊脫落現象,功能正常。

     

     

     

    接觸、非接

     

     

     

    IC卡模塊封裝質量

    UHICTR-9999 IC卡彎扭測試機

     

    7

     

    手動彎曲測試

     

    考核模塊機械可靠性

     

    正反各5次,電功能正常 注:參考CQM標準warping

     

    接觸、非接

     

    IC卡模塊封裝質量

     

     

    編號

    指標名稱

    考核內容

    質量管理認證送檢通過標準描述

    適用卡類

    指標分類

     

     

    8

     

     

    濕熱環境測試

     

     

    考核IC卡對惡劣環境的適應性

     

    樣卡放置60/10%RH-90%RH環境120片 功能正常。

     

     

    接觸

     

     

    IC卡模塊封裝質量

     

    9

     

    模塊背后點壓

     

    考核模塊與卡體的粘合牢固性

     

    ≥80N

    功能正常。

     

    接觸

     

    IC卡模塊封裝質量(UH2102點壓力測試機)

     

     

    10

     

     

    觸點機械強度

     

     

    考核芯片耐壓。

     

     

    三輪壓力測試,加10N的壓力,來回50能 正常。

     

     

    接觸

     

     

    IC卡模塊封裝質量(UHICC三輪測試機)

     

     

     

    11

     

     

     

    插拔壽命測試

     

     

    考核芯片表面的多 次插拔磨損后是否會影響接觸 性。

     

     

     

    插撥萬次后檢測芯片功能正常。

     

     

     

    接觸

     

     

     

    IC卡模塊封裝質量

     

     

    5

     

     

    ESD放電測試

     

    考核接觸式芯片管腳,非接觸 界面天線PAD的人體模型ESD放 電保護能力

     

     

    接觸正負4000V,非接8000V放電后,芯片正常

     

     

    接觸、非接

     

     

    芯片工藝質量

     

     

     

    12

     

     

     

    閂鎖效應測試

     

     

     

    考核芯片各個 ISO7816管 腳的 抗閂鎖能力

     

     

     

    芯片未發生閂鎖,功能正常。

     

     

     

    接觸

     

     

     

    芯片工藝質量

     

     

    13

     

     

    電力循環測試

     

     

    考核芯片經過多可 靠性

     

     

    熱復位5000次;5000存 儲數據正常。

     

     

    接觸

     

     

    芯片工藝質量

     

     

    編號

    指標名稱

    考核內容

    質量管理認證送檢通過標準描述

    適用卡類

    指標分類

     

     

    14

     

     

    非接性能

     

     

    考核非接性能

     

    (采用RSA 1024位密鑰,電子現金QPBOC) 1、卡片內處理時間小于250ms

    2、感應距離大于3.5cm

     

     

    非接觸

     

     

    IC卡用卡體驗

     

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